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2026-11
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CAF导电阳极丝失效，是多层PCB内部玻纤与树脂界面发生电化学迁移形成导电细丝，较为终造成层间漏电、短路，也是车载、服务器PCB较为需要警惕的失效模式，CAF测试正是依托PCB可靠性测试系统完成长期监控。在高温高湿外加持续偏压的环
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华南一家第三方电子材料检测实验室，计划拓展PCB可靠性对外检测业务，原有设备通道数量少，无法承接大批量并行试样测试，报告生成效率低，难以满足车载客户的测试需求。实验室引入广州维柯信息
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有些PCB可靠性测试系统只实现基础读数采集，缺少完整的数据管理体系，测试完成只有零散原始数据。工程师需要手动复制、整理、绘图，耗费大量工时；发生质量回溯时，很难快速调取完整的全周期曲线记录。设备没有预设IPC标准模板，每次试验都要
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在PCB可靠性长期测试项目中，很多测试失败并非PCB样品本身问题，而是测试硬件引入噪声、通道漏电、串扰，造成SIR高阻测试数据失真，出现大量假失效，带来不必要的复测成本。高阻SIR测试对线缆绝缘、开关单元漏电流控制要求较高，普通线
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电子产品的竞争，早已不止硬件功能层面，长期环境可靠性成为区分产品档次的关键。车载、医疗、通信、工业控制类PCB，在高温、高湿、持续偏压工况下，极易发生离子迁移、CAF导电阳极丝生长，这类失效潜伏期很长，常规出厂电测无法检出，等到终
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